场发射高分辨透射电子显微镜

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收费标准

机时
800元/小时
送样
详见检测项目

设备型号

FEI Talos 200x

当前状态

管理员

陈月花,肖康

放置地点

仙林校区教4115(2)115(2)-4
  • 仪器信息
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名称

场发射高分辨透射电子显微镜

资产编号

00097472

型号

FEI Talos 200x

规格

200KV

产地

捷克

厂家

赛默飞世尔

所属品牌

FEI

出产日期

购买日期

2017-09-01

所属单位

材料科学与工程学院

使用性质

科研

所属分类

微纳电子中心

资产负责人

--

联系电话

联系邮箱

放置地点

仙林校区教4115(2)115(2)-4
  • 主要规格&技术指标
  • 主要功能及特色
  • 样本检测注意事项
  • 设备使用相关说明
  • 备注
主要规格&技术指标
加速电压:200 KV 电子枪:肖特基热场发射 TEM点分辨率:0.25nm TEM信息分辨率: 0.12 nm STEM分辨率: 0.16 nm 样品倾斜角度X/Y:±30° 可同时采集4X幅来自不同角度的电子信号,明场 (BF),环形明场(ABF),环形暗场(ADF)和大角度环形暗场(HAADF)的图像。
主要功能及特色
功能模块:TEM 模式、选区电子衍射, 扫描透射模式,配有四探头能谱仪,用于对材料的二维三维快速成像和化学分析,实现点、线、面能谱分析
样本检测注意事项
对各种材料内部微结构进行观察 粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察 选区电子衍射和晶体结构分析 金属、陶瓷、半导体、塑料、等显微结构分析 配合能谱仪可以对样品元素做面分布分析,以及各种元素进行定性和半定量微区分析。
设备使用相关说明
收费按照机时进行收费,院内收费300元/小时,校内院外收费600元/小时,校外收费800元/小时。
备注
1、 粉末样品均匀分散在支持膜上并且干燥; 2、 块体样品要求大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下;3、高分辨样品要求厚度在10nm以下;4、 磁性样品需与老师沟通后确定是否能够测试。
检测项目
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